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  • MLCC高溫/低溫介電溫譜頻譜試驗(yàn)儀
    MLCC高溫/低溫介電溫譜頻譜試驗(yàn)儀

    更新時(shí)間：2024-12-08

    型號(hào)：

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    華測(cè)MLCC高溫/低溫介電溫譜頻譜試驗(yàn)儀，為了滿足材料在高溫環(huán)境下的介電測(cè)量需求而設(shè)計(jì)的。主要應(yīng)用于應(yīng)用領(lǐng)域：復(fù)合絕緣擦亮 、高分子絕緣材料 、無(wú)機(jī)絕緣材料 、有機(jī)絕緣材料 、其它絕緣材料等 。
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  • HCWP-1000型MLCC高溫介電溫譜/頻譜測(cè)試儀
    HCWP-1000型MLCC高溫介電溫譜/頻譜測(cè)試儀

    更新時(shí)間：2024-12-12

    型號(hào)：HCWP-1000型

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    MLCC高溫介電溫譜/頻譜測(cè)試儀，運(yùn)用三電極法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。重復(fù)性與穩(wěn)定性好，采用雙屏蔽高頻測(cè)試線纜，提高測(cè)試參數(shù)的準(zhǔn)確度，同時(shí)抗擾能力強(qiáng)。本設(shè)備也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)研究等用途。
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  • Huace450P北京華測(cè)高低溫介電溫譜儀
    Huace450P北京華測(cè)高低溫介電溫譜儀

    更新時(shí)間：2024-12-12

    型號(hào)：Huace450P

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    北京華測(cè)高低溫介電溫譜儀，設(shè)備測(cè)試頻率可達(dá)120MHz，采用直接聯(lián)接阻抗分析儀以減少測(cè)試導(dǎo)線的影響，同時(shí)電極加熱采用直流電極加熱方式，減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。
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  • HCWP-1000MLCC多通道介電溫譜/頻譜測(cè)試儀/測(cè)薄膜陶瓷
    HCWP-1000MLCC多通道介電溫譜/頻譜測(cè)試儀/測(cè)薄膜陶瓷

    更新時(shí)間：2024-12-08

    型號(hào)：HCWP-1000

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    MLCC多通道介電溫譜/頻譜測(cè)試儀/測(cè)薄膜陶瓷，專用儀器是為了滿足材料在高溫環(huán)境下的介電測(cè)量需求而設(shè)計(jì)的。從專業(yè)角度來(lái)說(shuō)，其實(shí)就是高溫介電溫譜測(cè)量系統(tǒng)。主要用于絕緣材料在不同溫 度不同頻率下的電學(xué)測(cè)試，系統(tǒng)包含高溫爐膛，阻抗分析儀，微電流表，夾具，測(cè)試軟件于一體.
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  • HCJD高低溫寬頻介電溫譜測(cè)試儀系統(tǒng)
    HCJD高低溫寬頻介電溫譜測(cè)試儀系統(tǒng)

    更新時(shí)間：2024-12-08

    型號(hào)：HCJD

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    華測(cè)高低溫介電溫譜測(cè)試儀系統(tǒng)運(yùn)用三電極法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。重復(fù)性與穩(wěn)定性好，采用雙屏蔽高頻測(cè)試線纜，提高測(cè)試參數(shù)的準(zhǔn)確度，同時(shí)抗擾能力強(qiáng)。本設(shè)備也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)研究等用途。
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  • MLCC多通道介電溫譜儀/陶瓷薄膜半導(dǎo)體塊狀
    MLCC多通道介電溫譜儀/陶瓷薄膜半導(dǎo)體塊狀

    更新時(shí)間：2024-12-08

    型號(hào)：

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    MLCC多通道介電溫譜儀/陶瓷薄膜半導(dǎo)體塊狀，為了滿足材料在高溫環(huán)境下的介電測(cè)量需求而設(shè)計(jì)的。它由硬件設(shè)備和測(cè)量軟件組成，包括高溫測(cè)試平臺(tái)、高溫測(cè)試夾具、阻抗分析儀和高溫介電測(cè)量系統(tǒng)軟件四個(gè)組成部分。
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  • 介電溫譜試驗(yàn)儀可測(cè)薄膜陶瓷等定制專業(yè)夾具
    介電溫譜試驗(yàn)儀可測(cè)薄膜陶瓷等定制專業(yè)夾具

    更新時(shí)間：2024-12-08

    型號(hào)：

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    介電溫譜試驗(yàn)儀可測(cè)薄膜陶瓷等定制專業(yè)夾具，主要用于絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學(xué)測(cè)試，系統(tǒng)包含高溫爐膛，阻抗分析儀，微電流表，夾具，測(cè)試軟件于一體，可測(cè)試材料的介電常數(shù)，介質(zhì)損耗，阻抗譜Co-Co圖，機(jī)電耦合系數(shù)等，同時(shí)可分析被測(cè)樣品隨溫度，頻率，時(shí)間變化的曲線，測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu)。
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  • 高低溫介電溫譜儀/頻率譜溫度譜介電譜曲線
    高低溫介電溫譜儀/頻率譜溫度譜介電譜曲線

    更新時(shí)間：2024-12-08

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    高低溫介電溫譜儀/頻率譜溫度譜介電譜曲線，公司開發(fā)的高低溫阻抗、介電測(cè)量系統(tǒng)軟件將高溫測(cè)試平臺(tái)，高溫測(cè)試夾具與WK6500系列、Agilent（Keysight）4294A/E4980A/E4990A、Tonghui TH2826/2827/TH2810、Solartron1260LCR測(cè)量設(shè)備無(wú)縫連接，實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)完成高溫環(huán)境下的阻抗、介電參數(shù)的測(cè)量與分析。
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